Whale4343FRI 생산은 비정질 실리콘 기술을 기반으로 한 고정형 및 저잡음 X-Ray 평판 검출기입니다.A-Si 기술 기반 검출기는 다른 기술로는 사용할 수 없는 많은 장점을 가지고 있습니다. Whale4343FRI 생산은 높은 이미지 품질과 넓은 동적 범위를 가지고 있으며 Whale4343FRI는 다중 이득 단계를 보유하고 있습니다. 고감도 및 넓은 다이나믹 레인지 요구 사항.위의 특성을 기반으로 Whale4343FRI 검출기는 산업용 NDT(비파괴 검사) 및 X Ray 칩 카운터 응용 프로그램에 널리 사용될 수 있습니다.
높은 다이내믹 레인지
긴 수명
| 기술 | |
| 감지기 | A-Si |
| 신틸레이터 | CSI / 고스 |
| 활성 영역 | 430×430mm |
| 픽셀 매트릭스 | 3072×3072 |
| 픽셀 피치 | 140㎛ |
| 광고 전환 | 16비트 |
| 상호 작용 | |
| 통신 인터페이스 | 기가비트 이더넷 |
| 노출 제어 | 펄스 동기화 입력(에지 또는 레벨) / 펄스 동기화 출력(에지 또는 레벨) |
| 방법 | 소프트웨어 모드 / HVG 동기화 모드 / FPD 동기화 모드 |
| I 프레임 속도 | 4fps(1x1) / 15fps(2x2) /30fps(3x3) |
| 운영 체제 | Windows7 / Windows10 OS 32비트 또는 64비트 |
| 기술 성능 | |
| 해결 | 3.5lp/mm |
| 에너지 범위 | 40-160KV |
| 지연 | ≤1% 첫 번째 프레임 |
| 다이내믹 레인지 | ≥86dB |
| 감광도 | 540lsb/uGy |
| SNR | 48dB @(20000lsb) |
| 기동특무부대 | 70% @(1lp/mm) |
| 38% @(2lp/mm) | |
| 21% @(3lp/mm) | |
| DQE | 58% @(0lp/mm) |
| 41% @(1lp/mm) | |
| 25% @(2lp/mm) | |
| 기계적 | |
| 치수(H x W x D) | 470x470x30mm |
| 무게 | 5kg |
| 센서 보호 재료 | 탄소 섬유 |
| 하우징 재질 | 알루미늄 합금 |
| 환경 | |
| 온도 범위 | 10~35℃(작동시),-10~50℃(보관시) |
| 습기 | 30~70%RH(결로 없을 것) |
| 진동 | IEC/EN 60721-3 클래스 2M3(10~150Hz,0.5g) |
| 충격 | IEC/EN 60721-3 클래스 2M3(11ms,2g) |
| 방진 및 방수 | IPX0 |
| 힘 | |
| 공급 | 100~240VAC |
| 빈도 | 50/60Hz |
| 소비 | 14W |
| 규제 | |
| CFDA(중국) |
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| FDA(미국) |
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| CE(유럽) |
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| 애플리케이션 | |
| 산업 | NDT(비파괴 검사) X 레이 칩 카운터 |
| 기계적 치수 | |
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